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    低溫介電溫譜測試系統

    低溫介電溫譜測試系統

    • 所屬分類:光電儀器
    • 瀏覽次數:
    • 發布日期:2020-04-14 15:44:43
    • 產品概述

    生產光學元器件廠家

    1. 系統配置:Acer 商用計算機,信號切換與控制系統,生產光學元器件廠家低溫儀及溫控系統,四通道夾具,液氮罐、測試與數據采集軟件(軟件兼容同惠 LCR 表以及是德(安捷倫)E4980AL 型 LCR 表和 4294A 型阻抗分析儀);

    2. 輸入端口:四個 BNC 端口;

    3. 輸出端口:10 個 SMA 輸出端口,需采用 SMA 接頭以提高高頻測試穩定性(頻率大于1MHz 時);

    4. 溫度范圍:-170℃ 至 220℃(額定溫區,長時間使用溫度),-185℃ 至 250℃(極限溫區,短時間使用);

    5. 系統屏蔽:通道切換主板預埋屏蔽層設計,連接線材采用射頻同軸線,以保證低頻與高頻測試精度和穩定性;

    6. 測試夾具:融石英與探針復合結構夾具,探針需使用鈹銅鍍金材料以保證長期測試穩定性;

    7. 同時測量樣品數:4 個;

    8. 測試液氮用量:一次測試液氮使用小于 1L;

    9. 測試頻率范圍:20Hz 至 5 MHz,基本準確度 0.05%;

    10. 升溫速率:升溫速率 1-10℃/min,測溫精度±0.1℃

    11. 測試樣品直徑:2 mm 至 25 mm;

    12. 樣品厚度:0.02 mm 至 4 mm;

    13. 單樣品測試頻率數:Z少 6 個頻率測量功能;

    14. 變溫介電頻譜測試功能;

    15. 變溫阻抗測試功能;

    16. 掃頻測試功能。


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